LSIテスト設計・評価

LSI製品開発における様々な『テスト』に関する問題点を解決させるため、最適なソリューションをご提供します。まさに『テストをデザイン』する技術者集団です。

こんなことでお困りではありませんか?

  • ロジック、アナログIP、FLASHメモリ搭載製品開発を進めたい。
  • あらゆるメーカーのLSIテスタ技術者が欲しい。
  • テストコストを下げたい。
  • SerDes,DDRのマニュアル測定者が欲しい。

経験10年以上のエンジニアを中心としたグループ体制で、方針立案、治工具の設計、テストプログラム設計、製品の動作確認・評価・解析にお応えします。

短TAT・高品質

各LSIテスタへのご対応はもちろん、半導体を熟知した評価技術者により、製品テストプランの方針立案から治工具設計、プログラム設計、デバイス評価、量産支援(工場対応)までを一貫対応し、短TAT、高品質を実現します。

提案型で対応

ご依頼内容に沿って、方針提案、短TAT提案を通じ評価コスト削減と効率化をすすめてまいります。

LSIのテスト設計・評価
  • 方針立案
    テスト仕様をベースにしたテスト方針の検討
  • 治工具設計
    プローブカード、DUTボード図面作成
  • テスト設計
    テスト機種に合わせたテスト設計
  • デバイス評価
    特性認定、量産性評価、ベンチ評価
  • 量産立ち上げ
    基地立ち上げ、歩留まり向上、テスト時短

保有スキル

各主要テスタメーカーはもちろん、レガシーテスタへのご対応もします。
アドバンテスト社 T2000、V93000、T6XXX、T5XXX
テラダイン社 J750、UltraFlex
横河電機社 TS6000H

製品特性評価はもちろん、多個測定は1パス化によるテストコスト削減、異なるテスタ間変換(プログラムコンバート)と相関確認、IPコアのマニュアル評価もご対応します。

多彩なLSIテスタ対応

テスタ名 マイコン SoC メモリ
T2000
V93000
HL2/3
T53XX
T55XX
J750
Ultra Flex
Magnum
TS6000H

IPコア評価対応

テスタ評価のみならず、ベンチ評価からご対応します。

テストコスト・開発コスト削減

多個測定や1パス化の経験に加え、要求性能や中量評価を踏まえ、治工具を含めたコスト削減を実施。

省力化・自動化

異機種テスタ間変換(プログラムコンバート)の自動化を推進。

LSIテスト設計・評価実績
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