LSIテスト設計・評価
LSI製品開発における様々な『テスト』に関する問題点を解決させるため、最適なソリューションをご提供します。まさに『テストをデザイン』する技術者集団です。
こんなことでお困りではありませんか？
- ロジック、アナログIP、FLASHメモリ搭載製品開発を進めたい。
- あらゆるメーカーのLSIテスタ技術者が欲しい。
- テストコストを下げたい。
- SerDes,DDRのマニュアル測定者が欲しい。
経験１０年以上のエンジニアを中心としたグループ体制で、方針立案、治工具の設計、テストプログラム設計、製品の動作確認・評価・解析にお応えします。
短TAT・高品質
各LSIテスタへのご対応はもちろん、半導体を熟知した評価技術者により、製品テストプランの方針立案から治工具設計、プログラム設計、デバイス評価、量産支援（工場対応）までを一貫対応し、短TAT、高品質を実現します。
提案型で対応
ご依頼内容に沿って、方針提案、短TAT提案を通じ評価コスト削減と効率化をすすめてまいります。
- 方針立案：
テスト仕様をベースにしたテスト方針の検討 - 治工具設計：
プローブカード、DUTボード図面作成 - テスト設計：
テスト機種に合わせたテスト設計 - デバイス評価：
特性認定、量産性評価、ベンチ評価 - 量産立ち上げ：
基地立ち上げ、歩留まり向上、テスト時短
保有スキル
各主要テスタメーカーはもちろん、レガシーテスタへのご対応もします。
アドバンテスト社 T2000、V93000、T6XXX、T5XXX
テラダイン社 J750、UltraFlex
横河電機社 TS6000H
製品特性評価はもちろん、多個測定は1パス化によるテストコスト削減、異なるテスタ間変換（プログラムコンバート）と相関確認、IPコアのマニュアル評価もご対応します。
多彩なLSIテスタ対応
| テスタ名 | マイコン | SoC | メモリ |
|---|---|---|---|
| T2000 | ● | ● | |
| V93000 | ● | ||
| HL2/3 | ● | ● | |
| T53XX T55XX |
● | ||
| J750 | ● | ● | |
| Ultra Flex | ● | ● | |
| Magnum | ● | ||
| TS6000H | ● | ● |
IPコア評価対応
テスタ評価のみならず、ベンチ評価からご対応します。
テストコスト・開発コスト削減
多個測定や１パス化の経験に加え、要求性能や中量評価を踏まえ、治工具を含めたコスト削減を実施。
省力化・自動化
異機種テスタ間変換（プログラムコンバート）の自動化を推進。
LSIテスト設計・評価実績