LSIテスト設計・評価実績
ADC DACなどのアナログIP、DDR3 SATAなどの高速IF、FLASH、DRAMなどのメモリのテスト効率化実績があります。最先端テクノロジーに対するテスト設計も積極的に行っています。また国内はもちろん、海外での量産展開も可能です。
開発実績は一例です。その他開発実績などご不明な点はお気軽にお問い合わせください。
| 機種名 | 評価項目 | 用途/テスタ | 考慮点 |
|---|---|---|---|
| ΔΣADC | 電源電流 ゼロ/フルスケール誤差 微分非直線性 積分非直線性 歪み 高周波 |
デジカメ画像処理用 V93000 |
デジタルフィルタによる多bit変換 |
| VIDEO ADC (10bit 50MHz) |
電源電流 ゼロ/フルスケール誤差 微分非直線性 積分非直線性 歪み 高周波 |
デジタルチュナーSTB用 V93000 |
PLLロングタームジッターの干渉による特性劣化 |
| VIDEO DAC (12bit 3.58MHz) |
電源電流 ゼロ/フルスケール誤差 微分非直線性 積分非直線性 微分利得 微分位相 |
デジタルチュナーSTB用 V93000 |
評価項目のノイズ対策 |
| DDR3 (1066Mbps) |
送信側：Drive駆動能力 受信側：入力レベル 送受信の実動作テスト |
車載カーナビ統合制御用 TS6000H |
高速伝送テスト用ボード設計 |
| FLASH (1Mbyte x 2) |
トリミング CHPD リダンダンシ 書込/消去特性 保持 ストレス耐圧 |
車載ダッシュボード用 T2000 |
テスト同測化 16並列から64並列を実施 |
| SATA (6.0Gbps) |
送信側：Drive駆動能力 受信側：入力レベル 送受信の実動作テスト |
HDD/SDD用 AL9737 |
内部ループバックテスト |
| HDMI | 送信側：Drive駆動能力 DCテスト 送受信の実動作テスト |
DSC用 TS6000H |
BOST制御 |
中国
| 開発分野 | テスタ | 前工程 | 後工程 |
|---|---|---|---|
| MCU | T2000 | - | 1製品 |
台湾
| 開発分野 | テスタ | 前工程 | 後工程 |
|---|---|---|---|
| SoC | T2000 V93000 |
- | 5製品 |
フィリピン
| 開発分野 | テスタ | 前工程 | 後工程 |
|---|---|---|---|
| MCU | Catalyst | - | 1製品 |
日本
| 開発分野 | テスタ | 前工程 | 後工程 |
|---|---|---|---|
| MCU | T2000 UltraFlex TS6000H J750 |
18製品 | 7製品 |
| SoC | V93000 T2000 TS6000H |
56製品 | 64製品 |
| メモリ | T53XX T55XX |
10製品 | 16製品 |
